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英譯法規中文內容(Chinese Content)

法規名稱(Title)： 晶圓及IC測試非屬保稅倉庫設立及管理辦法之檢驗測試範疇英
公發布日(Date)： 092.06.13
法規內文(Content)：

晶圓及IC測試業務，在目前已成為一專門行業，係半導體產製過程之一部分，非屬「保稅倉庫設立及管理辦法」第36條（編者註：現行辦法第34條）第1項第1款之檢驗、測試範疇。